·電腦主板高溫老化房適合測(cè)試主板，主機(jī)板、系統(tǒng)板或母板、LED顯示屏幕、LED顯示器件、LED模組，LED照明燈具、半導(dǎo)體、光纖通訊、光電、辦公設(shè)備、電子元器件、汽車(chē)零部件、航天航空材料、塑膠制品、電器、儀表儀器、汽車(chē)車(chē)輛、金屬、化學(xué)、建材、電源電池、醫(yī)療…等制品檢測(cè)質(zhì)量之用）。主板高溫老化房仿真出一種高溫老化、惡劣環(huán)境測(cè)試的老化設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性能、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、主板老化室是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要老化壽命生產(chǎn)流程。

·電腦主板高溫老化房可用電池、LCD、主板機(jī)、掃描器、監(jiān)視器、介面卡等做負(fù)載或溫度老化測(cè)試的一種設(shè)備，此設(shè)備外框架構(gòu)采用保溫庫(kù)板隔間組合而成，主板高溫老化房配上主配電箱、測(cè)試架、溫度控制器、定時(shí)器、各種電器開(kāi)關(guān)、加溫電熱器、盤(pán)架、拉門(mén)、循環(huán)風(fēng)機(jī)、排風(fēng)機(jī)、插座等設(shè)備模擬出一種高溫、惡劣環(huán)境。（40℃ -70℃±5℃、電源ON-OFF動(dòng)作等），讓產(chǎn)品在此環(huán)境中接上模擬負(fù)載通電運(yùn)作，測(cè)試時(shí)間可在0-99.9小時(shí)內(nèi)任意設(shè)定，通過(guò)此測(cè)試程序可查出不良品或不良零件，是制程、品管*之設(shè)備。由于電腦主板高溫老化室的性能及環(huán)境必須保證產(chǎn)品所需要的溫度、電源質(zhì)量、負(fù)載量、工作時(shí)間及操作人員的安全、習(xí)慣等要求，所以，一套合格的大型電腦主板高溫老化室設(shè)備，應(yīng)該是一套安全可靠，高效節(jié)能、功能齊全和具有可擴(kuò)充性的設(shè)備。　

技術(shù)參數(shù)及配置

注：|主板高溫老化室|計(jì)算機(jī)主板高溫老化室|主板步入式老化房|主機(jī)板大型老化室|電腦老化室其它尺寸及功能可根據(jù)用戶需求訂作。歡迎高溫老化房廠家科文。